Testo 835-H1, entegre nem modülü ve patentli IR nem ölçüm teknolojisi ile binalarda küf riskini hızlı, temassız ve güvenli şekilde analiz eden profesyonel bir infrared sıcaklık ve nem ölçüm cihazıdır.

Testo 835-H1, özel uygulamalar için geliştirilmiş infrared sıcaklık ve nem ölçüm cihazıdır. Patentli IR nem ölçüm teknolojisi sayesinde binalarda küf oluşum riskini erken tespit eder. Yüzey sıcaklığı, ortam nemi ve çiğleşme noktası arasındaki ilişkiyi eş zamanlı olarak değerlendirerek, riskli bölgelerin hızlı ve temassız analizini mümkün kılar.

Odaklamalı optik sistemi sayesinde 5 metre mesafeden sadece 10 cm’lik ölçüm alanı sunar. 4 nokta lazer işaretleme teknolojisi, ölçülen yüzeyin tam olarak neresi olduğunu göstererek hatasız ve tekrarlanabilir ölçümler sağlar.

Joystick kontrollü menü navigasyonu, veri hafızası ve PC yazılımı ile ölçüm sonuçlarını kayıt altına alıp detaylı analiz imkânı sunar. Geniş sıcaklık ölçüm aralığı, entegre nem modülü ve dayanıklı gövde yapısı ile HVAC, bina denetimi, yalıtım kontrolü ve küf analizi gibi profesyonel uygulamalar için ideal bir çözümdür.

📦 Teslimat Kapsamı

• Testo 835-H1 infrared sıcaklık ve nem ölçüm cihazı

• 4 nokta lazer işaretleme

• Entegre nem modülü

• Veri yönetim yazılımı (PC)

• Bataryalar

• Kalibrasyon protokolü

📊 Teknik Bilgiler

🔹 Sıcaklık – K Tipi (NiCr-Ni)

• Ölçüm aralığı: -50 … +600 °C

• Doğruluk: ±(0,5 °C + %0,5 ölçüm değeri)

• Çözünürlük: 0,1 °C

🔹 Sıcaklık – Infrared

• Ölçüm aralığı: -30 … +600 °C

• Doğruluk:

  • ±1,5 °C (-20 … -0,1 °C)

  • ±2,5 °C (-30 … -20,1 °C)

  • ±1 % ölçüm değeri (kalan aralık)

  • ±1,0 °C (0 … +99,9 °C)

• IR çözünürlük: 0,1 °C

🔹 Nem – Kapasitif Sensör

• Ölçüm aralığı: 0 … 100 %RH

• Doğruluk: ±2 %RH

• Ek bilgiler:

  • Çözünürlük: 0,1 %RH

  • Çiğleşme noktası çözünürlüğü: 0,1 °Ctd

  • Sıcaklık çözünürlüğü: 0,1 °C

📌 Öne Çıkan Kullanım Alanları

• Bina küf oluşumu analizi

• Yüzey nemi ve çiğleşme noktası ölçümleri

• HVAC kontrolü

• Yalıtım denetimi

• Soğuk/ıslak yüzey risk analizi

• İnşaat ve tesis yönetimi